CMI系列測厚儀膜厚儀膜厚測量儀CMI250
深圳市方源儀器總代理英國牛津儀器（Oxford）CMI系列測厚儀膜厚儀膜厚測量儀CMI250，該儀器是一款多功能的儀器，其采用的測試原理技術是渦流/磁感應雙探頭檢測技術，。設計上也是非常巧妙，手掌大小的體積，內置卻有著先進高端的檢測技術。便于攜帶，適合于在外考察零件產品表面厚度是否達到企業的標準。

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英國牛津儀器Oxford膜厚儀CMI250
英國牛津儀器（Oxford）總代理方源儀器專業供應英國牛津儀器Oxford膜厚儀CMI250。膜厚儀CMI250運用了鋼鐵及有色金屬底材上涂層厚度的先進測量技術，基于磁感應和電渦流技術，具有統計分析功能和USB電腦接口。CMI250是一款多功能儀器，其技術基礎是我們久負盛名的渦流/磁感應雙探頭技術。該儀器的功能包括工廠和用戶雙重校準、自動溫度補償、基線校正、測量存儲選項、日期和時間自行設定、統計分析和USB電腦連接。

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CMI200系列電渦流膜厚測量儀測厚儀CMI250
CMI200系列電渦流膜厚測量儀測厚儀CMI250是一款高精密便攜式測厚儀，電渦流技術測量如鋁、黃銅或銅等有色金屬上的非導電涂層：特富龍、搪瓷、環氧樹脂、陽極氧化膜、粉末涂料、油漆等。深圳市方源儀器總代理出售。

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牛津儀器Oxford產品系列
銅箔測厚儀CMI95M： 銅箔膜厚儀 英國牛津儀器Oxford銅箔膜厚儀 CMI95M銅箔測厚儀廠家 檢測銅箔膜厚儀測厚儀CMI95M 測試銅箔厚度膜厚儀 銅箔厚度測定儀 深圳方源銅箔測厚儀膜厚儀 上海特供CMI95M銅箔測厚儀膜厚儀 Oxford膜厚儀CMI95M銅箔測厚儀 便攜式銅箔膜厚儀CMI95M

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臺式XRF鍍層測厚儀 - X-Strata920
深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器指定中國總代理商!射線熒光分析儀X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設備。利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。

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臺式XRF鍍層測厚儀 - MAXXI 6
深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器指定中國總代理商!臺式XRF鍍層測厚儀 - MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產品質量的一致性和高品質。

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鍍層測厚儀—ECO系列
深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器指定中國總代理商! Eco系列鍍層測厚儀是通用的鍍層厚度測試和材料分析儀器，可提供目前最高的性價比。

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臺式XRF鍍層測厚儀—MAXXI 5系列
深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器指定中國總代理商!?MAXXI 5 是鍍層測厚和材料分析的通用儀器，能提供目前最高的性價比。他們是既能滿足最佳功能性，又能滿足最高的檢測精度的理想工具。

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